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當(dāng)前位置:
SD2000系列晶振測(cè)試系統(tǒng)

SD2000系列晶振測(cè)試系統(tǒng)

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 SD2000系列晶振測(cè)試系統(tǒng)

詳細(xì)說(shuō)明


主要特點(diǎn)


由微機(jī)、射頻開(kāi)關(guān)和高分辨率計(jì)數(shù)器組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)


可用于晶振老化測(cè)試和溫度測(cè)試,自動(dòng)完成老化漂移、穩(wěn)定度、準(zhǔn)確度、日波動(dòng)等參數(shù)的測(cè)量


通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)的組合,可組成64-N路測(cè)試矩陣


自動(dòng)記錄儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù),自動(dòng)形成測(cè)試曲線(xiàn)


主要技術(shù)指標(biāo)

頻率范圍:DC~100MHz

隔離度:120dB(5MHz); 90dB (100MHz)

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